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超快光聲顯微成像系統(tǒng)

簡要描述:JAX超快光聲顯微成像系統(tǒng)采用單路或雙路的泵浦/探測模式的飛秒激光器,重復(fù)頻域在數(shù)百兆赫茲(如下圖)。它被稱為外差法技術(shù),具有高穩(wěn)定性和高精度等優(yōu)點,允許用戶一鍵采集一個測量點的所有參數(shù),比傳統(tǒng)技術(shù)快10 000到100 000倍。頻移允許通過一個雙光源即時掃描并在數(shù)個毫秒內(nèi)獲得樣品信息,探測時間分辨率小于1ps,這就是異步光學(xué)采樣技術(shù)??蓜?chuàng)建所研究參數(shù)的Mapping成像。

  • 產(chǎn)品型號:JAX
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時間:2022-12-29
  • 訪  問  量:2387

詳細介紹

聲波(超聲波)已經(jīng)作為一種常見無損檢測手段,在工業(yè)或醫(yī)療領(lǐng)域的宏觀范圍內(nèi)的測試得到廣泛應(yīng)用。另一方面,我們每天使用的電子器件裝置越來越集成和復(fù)雜,尺寸越來越小。傳統(tǒng)的表征測試手段越來越具有局限性,在納米尺度范圍內(nèi)需要新的測量裝置進行材料的表征測試;

JAX超快光聲顯微成像系統(tǒng)采用新一代的泵浦探測pump-probe技術(shù)即異步光學(xué)采樣技術(shù)(ASynchronous OPtical Sampling Imagery System,ASOPS). 此技術(shù)源于光學(xué)外差法采樣技術(shù),是波爾多大學(xué)和法國CNRS共同合作開發(fā)的技術(shù),Neta的產(chǎn)品來源于此項技術(shù)。這種授權(quán)的新技術(shù)可在在納米尺度上表征材料,而不接觸破壞樣品。Neta使用這項技術(shù),采用新的工業(yè)設(shè)計,具有先進的性能,高可靠性和可維護性。我們的研發(fā)團隊進行了專業(yè)的工業(yè)化設(shè)計,使得Neta成為一種易于使用和即插即用的產(chǎn)品,可以像普通顯微鏡一樣,非專業(yè)人士即可操作。

l  即時可用ASOPS 系統(tǒng)

l  一鍵采集測量;

l  具有Mapping成像能力;

l  非破壞/無接觸探測

l  高分辨率和高精度

l  基于新一代脈沖光纖激光器

JAX超快光聲顯微成像系統(tǒng)采用單路或雙路的泵浦/探測模式的飛秒激光器,重復(fù)頻域在數(shù)百兆赫茲(如下圖)。它被稱為外差法技術(shù),具有高穩(wěn)定性和高精度等優(yōu)點,允許用戶一鍵采集一個測量點的所有參數(shù),比傳統(tǒng)技術(shù)快10 000到100 000倍。頻移允許通過一個雙光源即時掃描并在數(shù)個毫秒內(nèi)獲得樣品信息,探測時間分辨率小于1ps,這就是異步光學(xué)采樣技術(shù)。一旦樣品上單點測量結(jié)束,用戶可以移動樣品并開始掃描整個表面,以便創(chuàng)建所研究參數(shù)的Mapping成像。

圖1ASOPS 測量示意圖


JAX-進行皮秒聲波的產(chǎn)生和檢

JAX-一般使用反射模式,基于正置結(jié)構(gòu),近紅外激勵pump模式。在這種模式下,由近紅外飛秒激光正面輻照樣品上表面,樣品內(nèi)產(chǎn)生超聲波,并用另外一束飛秒激光進行聲波檢測。在圖2的示例中,樣品是硅襯底上的250納米的鎢薄膜。被激發(fā)的聲波穿透鎢薄膜,當(dāng)?shù)竭_鎢和硅的界面時,部分聲波被反射回到表面,并被探測激光作為回聲檢測到。聲波再次被鎢和空氣界面反射,并在結(jié)構(gòu)層中傳輸,這樣產(chǎn)生多次的回聲信號。

圖2鎢涂層厚度測量

自動信號處理

特定開發(fā)的程序用來提取回聲信號之間的飛行

時間F和衰減a;從內(nèi)部接觸界面或其它亞表面非均勻聲學(xué)區(qū)域返回到表面的應(yīng)變脈沖被檢測為一系列回波信號。例如,通過薄膜來回傳播的應(yīng)變脈沖產(chǎn)生一系列衰減的回波,從中可以得到一個超聲波衰減或超聲波色散的回波,通過這些信號特征進而得到薄膜厚度。固體表面附近的折射率和消光系數(shù)受到返回的應(yīng)變脈沖的擾動, 從而導(dǎo)致光學(xué)反射率或透射的變化(探測光的光學(xué)吸收深度內(nèi))。測量的時間回波形狀是由探測光吸收譜形狀和應(yīng)變脈沖空間輪廓的空間積分決定的。

物理屬性提取及成像

通過回波之間飛行的時間可以推斷出鎢的厚度,而回聲的衰減等信息告訴我們涂層黏附的質(zhì)量。ASOPS快速測試能力使得在合理的測試時間內(nèi)對器件的成像測試如今成為可能,ASOPS技術(shù)代替了傳統(tǒng)泵浦探測中的分散多點測試和估算。圖4這里的案例,是以50微米的空間分辨率進行了1000個點的測試。

圖3左側(cè):鎢層的薄膜厚度(納米);右側(cè):黏附質(zhì)量

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